節(jié)能型高低溫低氣壓試驗箱是主要用于航空、航天、電子、國防、科研和其它工業(yè)部門確 定電工的電子科技產品（包括元器件、材料和儀器儀表）。在高低溫低氣壓單項或 同時作用下，進行貯存運輸可靠性試驗，并可同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測試。

技術特點

??節(jié)能設計 采用 PID+PWM 原理的 VRF（制冷劑流量控制）技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行配備冷控 制 PID 自動調節(jié)技術（在線性降溫和低溫恒溫過程中，通過冷控制 PID 調節(jié)制冷輸 出量達到溫度平衡,即制冷不制熱、制熱不制冷的“冷平衡"技術）。 采用該模式的設計相較于傳統(tǒng)冷熱平衡模式可節(jié)能 30%以上，具體設計方案詳 見第 8.7、8.8 條。 

? 壓力控制 設備壓力控制采用電動比例閥，根據壓力設定值與測量值自動調整比例閥開度， 以保持壓力穩(wěn)定。 電動比例閥可根據試驗需求進行壓力線性變化試驗。

? 送風裝置 設備出風口安裝雙層式可調百葉窗，可根據 9 點實測的溫度調整箱內風量分配， 以實現(xiàn)較高的溫度均勻度和偏差。

滿足測試標準

GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫

GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 M：低氣壓

GB/T 2423.25-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Z/AM：低溫/ 低氣壓 

GB/T 2423.26-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Z/BM：高溫/ 低氣壓

GJB 150.2A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 2 部分：低氣壓試驗

GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 3 部分：高溫試驗 

GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 4 部分：低溫試驗 

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件

GB/T 10590-2008 高低溫低氣壓試驗箱技術條件 

GB/T 5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備

GB/T 5170.10-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備

節(jié)能型高低溫低氣壓試驗箱